本製品では、非晶質や平滑性の低い有機半導体や生体膜などの分子配向も、官能基単位で高精度に計測・解析できます。 スピンコートやキャスト法で得られた表面の荒れた有機薄膜も解析対象となります。 MAIRSスペクトルを取得するための「自動サンプル測定」および研究成果に基づく「定量的に高精度なMAIRSスペクトル」の自動計算まで容易に実行できます。
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